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[ 智能晶片自动测量系列DXL-C1018 ]

设备信息

用于晶片端面四方向晶片原子面角度测量；及对晶片柱面notch反向晶片原子面角度测量，双工作台的独立操作，具有自动寻峰，自动计算差值，历史报警查询与标准晶向角度保存等功能。设备精度为±30”，小读数1”

适用晶体

硅、蓝宝石、、、、等III-V族化合物

代理品牌：

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