| 是一种用于测定水晶、硅锗单晶、等各种几何表面与内部某一晶面间角度的仪器，它包括有Ｘ射线管、管套、风冷电机、被测晶体、计数器、放大器、数显器、电表、稳压器、控制器、高压发生器、高压电缆、吸泵等组成，其主要技术特点是它的测量光路由Ｘ射线管、单色器、被测晶体到计数器组成，其单色器为具有一定晶面切角的水晶片。本仪用单色器将初级Ｘ射线进行单色化，选取了单一波长的Ｘ射线来检测被测晶体的晶面角度，因而大大提高了测量精度，可达到±１５″档次，实现了高精度的测量。 利用X射线衍射原理，精密快速地测定天然和人造单晶（、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的切割角度，与切割机配备可用于上述晶体的定向切割，是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器。该仪器广泛应用于晶体材料的研究、加工、制造行业。测量精度±30″，显示方式为数字式，小读数为10″。改进测角仪结构，增加了承重轨道，X学管管套，支架体，样品台升高，可测量1~30公斤，2~8英寸直径样品。角度显示：数字方式，测量精度±30″。
X射线晶体定向仪利用X射线衍射原理,精密快速地测定天然和人造单晶(压电晶体,光学晶体,激光晶体,半导体晶体)的切割角度,与切割机配套可用于上述晶体的定向切割,是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器.该仪器广泛应用于晶体材料的研究,加工,制造行业。
|
